低電圧配電盤のデバッグ手順と方法

低電圧配電盤を設置した後、使用する前に技術者がデバッグする必要があります。低電圧配電盤のデバッグは、主に機械的試験と電気デバッグに分かれています。

1. 機械的なデバッグ。

機械的なデバッグは、主に手作業で操作された部品と引き出しのデバッグを指します。各メカニズムが動作に柔軟で、品質が高いかどうかを検査します。検査中は引き出しに特別な注意を払う必要があります。これは、低電圧配電盤の通常の使用に直接影響を与えるので、接続と切断位置が信頼性が高いことが重要です。

2. 電気デバッグ。

電気デバッグは主に含む:電気操作実験;連動関数テスト;絶縁試験。

(1) 電気操作実験: 正しい設置と配線を前提として、電気回路図、すなわちパワーオンテストに従って、シミュレートされたアクションテストを実施します。主に含まれます:サーキットブレーカの閉じると開くが正常であるかどうか。ボタン操作と関連するインジケータライトが正常であるかどうか。手動切り替えが正常かどうか。この種のテストは一つずつ実行する必要があり、キャビネットはデバッグする必要があり、その後、ドロワーは、それが引き出しのキャビネットである場合は、1つの引き出しとデバッグ用の1つの引き出しが必要です。

(2) インターロック機能試験: 操作機構とドアの間のインターロックと、引き出しとドアの間のインターロックを確認します。閉じる(電源オン)の場合は、ドアを開けることができません。ドアはゲートが開いてからしか開けることができない。通常の電源装置が通常バックアップ電源遮断器によって電源供給されている場合、デュアル電源装置間の機械的または電気的なインターロックを閉じることはできません。主電源が遮断されると、バックアップ電源は自動的に相互切り替えを完了します。

(3)絶縁抵抗試験:キャビネット内のオペレータ、キャビネット、および部品の安全性を確保するために、絶縁抵抗試験が不可欠です。主な測定位置は、スイッチギアのメインスイッチがオフの位置にある場合、同じポールの入ってくるワイヤと発信ワイヤの間にあります。メインスイッチが閉じられたときに異なるポールのライブ部分の間。主回路と制御回路の間。各は、キャビネットのコンポーネントと金属フレームの間に住んでいます。テスト時間は1分に達する必要があり、テスト抵抗は0.5MΩに達する必要があります。

低電圧配電盤が良好な運転条件を達成し、人員と機器の安全を確保するために、低電圧配電盤は上記の項目がすべてデバッグされた後にのみ通常の使用に置くことができます。だから、デバッグは非常に重要で不可欠です。